量子点无毒,为消费电子产品的 CMOS 短波红外图像传感器铺平了道路
ICFO(计算物理与光学研究所)和 Qurv 的研究人员开发了一种基于无毒胶体量子点的高性能 SWIR 图像传感器。 在《自然光子学》上发表的研究中,他们报告了一种合成功能性高质量无毒胶体量子点的新方法,该方法可与互补金属氧化物半导体(CMOS)技术集成。
SWIR 光是人眼看不见的,但它可以在汽车、消费电子和服务机器人等大批量市场的计算机视觉应用中提供无与伦比的可靠性、性能和功能。 具有短波红外灵敏度的图像传感器可以在恶劣条件下可靠工作,例如阳光、雾气和烟雾。 SWIR 系列还为眼睛提供安全的照明源,并允许分子成像检测材料特性。
基于 CQD 的图像传感器平台为大容量、兼容的图像传感器提供了一个有前景的技术平台。 CQD 是可以集成到 CMOS 中的纳米半导体晶体。 这允许访问 SWIR 范围。 对短波红外敏感的半导体量子点经常被铅和汞(汞硫族化物半导体)等重金属污染。 这是将它们转化为可用于大众市场应用的关键技术的主要障碍。 这些材料受有害物质限制指令 (RoHS) 的监管,该指令是一项监管其在消费电子产品中商业用途的欧洲指令。
来源和详细信息:
https://scitechupdates.com/non-toxic-quantum-dots-pave-the-way-towards-cmos-shortwave-infrared-image-sensors-for-consumer-electronics/